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主要特點：
◆ 實現對光滑和粗糙表面測量
◆ 不用訂合可達到測量區域為1cm2
◆ 具有快速物鏡切換功能
◆ 橫向分辨率可達1um，垂直分辨率***高可到1nm
◆ 測量結果與色彩和材料無關
◆ 能實現秒***的快速測量
 

技術數據：
光源：LED
測量范圍（μm）：100/150
垂直分辨率（nm）：＜1
橫向分辨率（μm）：≥0.2
光圈：0.95
測量面積（μm）：90*70
圖像尺寸（Pixel）：1280*1024

WLI測量系統是為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度、微觀結構和其它表面參數而設計，可滿足電子、汽車、制造工業的使用需求。擴展的顯微鏡模式能使用戶獲得具有以下特點的3D圖像，對圖像縮放、釘合、標記無效值、選擇視場等操作。
測量和評估軟件可自動測量，用戶可從表面圖像中選取和處理輪廓線。

主要用途：
◆ 粗糙和光滑表面的顯微研究和測試
◆ 產品凸凹結構圖
◆ 可根據特殊用途定制

主要特點：
◆ 實現對光滑和粗糙表面測量
◆ 不用訂合可達到測量區域為1cm2
◆ 具有快速物鏡切換功能
◆ 橫向分辨率可達1um，垂直分辨率***高可到1nm
◆ 測量結果與色彩和材料無關
◆ 能實現秒***的快速測量

主要優點：
◆ 表面結構的快速分析
◆ 測量結果與材料表面性能無關
◆ 自動數據采集和評估

技術數據：
光源：LED
測量范圍（μm）：100/150
垂直分辨率（nm）：＜1
橫向分辨率（μm）：≥0.2
光圈：0.95
測量面積（μm）：90*70
圖像尺寸（Pixel）：1280*1024